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光刻胶厚度\\光刻胶均匀性\\透光化合物厚度\\不透光化合物厚度

光刻胶厚度\\光刻胶均匀性\\透光化合物厚度\\不透光化合物厚度\\掩膜板表面缺陷\\膜厚度\\薄膜应力\\薄膜结合力\\膜硬度\\刻蚀形貌\\深孔形貌\\栅格形貌\\沟槽形貌\\斜面形貌测试系统

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    北京 朝阳区 酒仙桥路14号兆维大厦6层616室
是否进口:否加工定制:是品牌:BRUKER布鲁克
型号:BRUKER布鲁克Dimension Edge类型:表面形貌分析系统外形尺寸:500 X 600 X 800mm
重量:2000Kg产品用途:表面形貌分析系统规格:BRUKER布鲁克Dimension Edge

布鲁克Bruker原子力显微镜ARM/表面形貌/粗糙度/电学/磁学性能测量系统


Bruker公司的AFM具有多项技术,以其***的性能广泛应用于科研和工业

Dimension Edge原子力显微镜采用了布鲁克的一些创新技术,达到了同类产品的水平,为纳米尺度的科学研究提供了高效率、高性价比的强大工具。


应用:

应用于科研和工***各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。



原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式:接触模式(contact mode) ,非接触模式( non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode)。


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